可以評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化問題的設(shè)備？

可以評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化問題的設(shè)備？

產(chǎn)品介紹：

面對材料越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長期電化學(xué)腐蝕平臺，可高精度連續(xù)試驗(yàn)，高效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。

試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各類工業(yè)制品、零部件以及原材料的實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲存和運(yùn)輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫度變化、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性。

設(shè)備參數(shù)：