高壓器件介質損耗分析系統

產品型號：HC-Q37a

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-21

產品簡介：

華測儀器HC-Q37a高壓器件介質損耗分析系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師。

HC-Q37a高壓器件介質損耗分析系統由華測儀器生產，該儀器以鎖相放大器原理運作，能夠分析容性和感性負載，特別是旁路電抗器，具有精度和穩定性。全套系統是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統。

一、產品參數

耗散因數(tanδ)：0 ~ 100

功率因數(cosφ)：0 ~ 1

電容：≤10nF(1kHz)

           ≤1uF(50Hz)

電感：≤ 1 kH

測試電壓：上限2000V

測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA

測試電阻：上限100TΩ

測試頻率：1mHz~10kHz

運行溫度：-10~50℃

存儲溫度：-20~50℃

濕度：5~95％相對濕度，不結露

二、產品優勢

1. 手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執行和趨勢分析。

2. 能提供完整的測量系統，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極。

3. 能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數及損耗。

4.系統采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術。

三、依據標準

GB/T 5654-2007《 液體絕緣材料 相對電容率、介質損耗因數和直流電阻率的測量》

GB/T 1693-2007《 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》