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2022-06-07
手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍微型真空探針臺(tái)是一款用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料B備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。應(yīng)用：晶圓、芯片、LED測(cè)試、場晶體管、IGBT、分立器件等測(cè)試類型：IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試、光電測(cè)試等搭配儀器：吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等特點(diǎn)：超高...2022-06-02
高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用微機(jī)技術(shù)設(shè)計(jì)為核心，以大規(guī)模集成電路和數(shù)字電路相組合，配有測(cè)量和數(shù)據(jù)處理軟件，完成絕緣電阻、電壓等參數(shù)測(cè)量，性能穩(wěn)定，操作簡便。高溫絕緣電阻測(cè)試儀的電壓等級(jí)應(yīng)高于被測(cè)物的絕緣電壓等級(jí)。所以測(cè)量額定電壓在500V以下的設(shè)備或線路的絕緣電阻時(shí)，可選用500V或1000V絕緣電阻測(cè)試儀；測(cè)量額定電壓在500V以上的設(shè)備或線路的絕緣電阻時(shí)，應(yīng)選用1000～2500V絕緣電阻測(cè)試儀；測(cè)量絕緣子時(shí)，應(yīng)選用2500～5000V絕緣電阻測(cè)試儀。一般情況下，測(cè)量低壓電氣設(shè)...2022-06-02
高溫絕緣電阻測(cè)試儀用于測(cè)量電線絕緣的電阻，完整性和安全性。由于電絕緣層破裂，可能會(huì)發(fā)生許多危險(xiǎn)。電擊和人員傷害，系統(tǒng)故障以及機(jī)械故障，火災(zāi)隱患以及必定的停機(jī)時(shí)間成為主要問題。絕緣測(cè)試有多種*的測(cè)試方法。考慮絕緣電阻時(shí)，主要執(zhí)行三種不同的測(cè)試。它們用于電動(dòng)機(jī)，變壓器和發(fā)電機(jī)，但也可以用于電線和電纜。請(qǐng)注意，絕緣測(cè)試僅應(yīng)在斷電的電路上執(zhí)行。現(xiàn)場閱讀測(cè)試點(diǎn)讀測(cè)試是在相同時(shí)間間隔內(nèi)以固定電壓進(jìn)行的一次絕緣測(cè)試，通常是按照常規(guī)維護(hù)計(jì)劃進(jìn)行的。每次測(cè)試的時(shí)間間隔通常不少于60秒。每年都會(huì)...2022-05-26
如果電壓作用時(shí)間很短(例如以下)，固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿，擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長，擊穿電壓將下降，如果在加電壓后數(shù)分鐘到數(shù)小時(shí)才引起擊穿，則熱擊穿往往起主要作用。不過二者有時(shí)很難分清，例如在工頻交流耐壓試驗(yàn)中的試品被擊穿，常常是電和熱雙重作用的結(jié)果。電壓作用時(shí)間長達(dá)數(shù)十小時(shí)甚至幾年才發(fā)生擊穿時(shí)，大多屬于電化學(xué)擊穿的范疇。以常用的油浸電工紙板為例，在圖中，以頻擊穿電壓(峰值)作為基準(zhǔn)值，縱坐標(biāo)以標(biāo)么值來表示。電擊穿與熱擊穿的分界點(diǎn)時(shí)間約在之間，作用時(shí)間大...2022-05-23
優(yōu)點(diǎn)1:更高頻率的測(cè)量提高了內(nèi)置放大器的輸出頻率、采用FPGA高速采集，實(shí)現(xiàn)電滯回線*大500KHz的測(cè)試頻率。*大40M的高速采集。同時(shí)內(nèi)置的高速信號(hào)發(fā)生裝置，硬件支持*快脈沖100ns的波形觸發(fā)，J大提高了脈沖測(cè)試速度。優(yōu)點(diǎn)2:更完善的測(cè)量功能比現(xiàn)有的鐵電分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電卡、阻抗、電阻、擊穿等測(cè)量功能。預(yù)留4通道高速接口，方便擴(kuò)展高低溫測(cè)試環(huán)境。在功能材料的電學(xué)測(cè)試，可輕松實(shí)現(xiàn)一套系統(tǒng)完成電學(xué)測(cè)試。優(yōu)點(diǎn)3:更嚴(yán)格的質(zhì)量管控嚴(yán)格做好每一款產(chǎn)品質(zhì)量把控，從原...2022-05-11
電壓擊穿試驗(yàn)儀，又叫電壓擊穿測(cè)試儀，主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。該設(shè)備試驗(yàn)過程又可由單片機(jī)實(shí)現(xiàn)控制，試驗(yàn)結(jié)果顯示在液晶屏上，同時(shí)也可通過通訊口把數(shù)據(jù)傳給計(jì)算機(jī)由計(jì)算機(jī)控制試驗(yàn)過程及處理試驗(yàn)數(shù)據(jù)。電壓擊穿試驗(yàn)儀規(guī)格型號(hào)選擇：電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-10KV主要用于薄膜材料，丙烯薄膜聚乙烯薄膜.聚酯薄膜，流延聚丙烯薄膜。電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-20KV主要適用于橡膠，絕緣漆漆膜，聚...2022-05-10
產(chǎn)品用途據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電流均超過1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和...
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